Polykristallað sólblað hefur þann kost að vera lægra en einkristallað skífu. En almennt séð hefur pólýkristallað oblat lægri mögulega skilvirkni en einkristallað oblat.
Polycrystalline wafer er efni sem samanstendur af mörgum litlum kísilkristöllum.
1 Efnislegir eiginleikar
Eign | Forskrift | Skoðunaraðferð |
Vaxtaraðferð | stefnulaus storknun | XRD |
Kristöllun | fjölkristallað | Ívilnandi Etch Techniques（ASTM F47-88） |
Leiðni gerð | P-gerð | Napson EC-80TPN P/N |
Dopant | Bor | - |
Styrkur súrefnis [Oi] | ≦1E+17 við / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Styrkur kolefnis [Cs] | ≦1E+18 við / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
2 Rafmagns eiginleikar
Eign | Forskrift | Skoðunaraðferð |
Viðnám | 0,5-2 Ωcm (Eftir glæðingu) | Wafer skoðunarkerfi |
MCLT (líftími minnihlutahóps) | ≧2 μs | Sinton QSSPC |
3 Rúmfræði
Eign | Forskrift | Skoðunaraðferð |
Rúmfræði | Ferningur eða rétthyrningur | Wafer skoðunarkerfi |
Beygja brún lögun | Lína | Wafer skoðunarkerfi |
Wafer stærð (Hliðarlengd * hliðarlengd) | 156mm * 156mm 157mm * 186mm 166mm * 166mm | Wafer skoðunarkerfi |
Horn milli aðliggjandi hliða | 90±3° | Wafer skoðunarkerfi |
maq per Qat: p gerð pólýkristallað sólplata þar á meðal 166mm * 166mm, Kína, birgja, framleiðendur, verksmiðja, gerð í Kína
